CCIT 陽(yáng)性樣品制備：這是目前應(yīng)用較多，較接近真實(shí)漏孔的陽(yáng)性樣品制備方法，可以在包材任意部位激光打孔（小2微米），并且每一支陽(yáng)性樣品均具有反應(yīng)真實(shí)漏率的校準(zhǔn)證書(shū)。

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更新時(shí)間：2026-01-08

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CCIT測(cè)試服務(wù) 包裝密封測(cè)試服務(wù) CCIT激光打孔

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CCIT 陽(yáng)性樣品制備

CCIT陽(yáng)性樣品制備是通過(guò)在包裝樣品上制備已知缺陷的陽(yáng)性樣品，用于CCIT方法驗(yàn)證,以確認(rèn)當(dāng)前CCIT方法可靠性、適用性及靈敏度的目的。
制備方法及特點(diǎn):
1、激光打孔:這是目前應(yīng)用較多，較為接近真實(shí)漏孔的陽(yáng)性樣品制備方法，可以在包材任意部位激光打孔(小2微米) ，并且每一支陽(yáng)性樣品均具有反應(yīng)真實(shí)漏率的校準(zhǔn)證書(shū)。
2、毛細(xì)管制備:通過(guò)已知內(nèi)徑的毛細(xì)管(小2微米)，在包裝膠塞上插入相應(yīng)內(nèi)徑的毛細(xì)管,制備周期短、成本低。
3、形式缺陷制備:通過(guò)夾絲、裂紋、跳塞、針孔等各位方式模擬大漏。

CCIT 陽(yáng)性樣品制備

上海奇宜提根據(jù)用戶(hù)實(shí)際包裝材料及包裝形式選擇合適的陽(yáng)性樣品制備方式，并提供完整的制備方案。